PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用 参考价:面议
应用于X射线荧光光谱仪配用的压片机作为压样模具。日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF 3760-华普通用 参考价:面议
全反射 X 射线荧光光谱仪表面污染计量测量离散点的元素污染或使用完整的晶圆图日本理学连续波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400-华普通用 参考价:面议
Rigaku 的 ZSX Primus 400 连续波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪专为处理非常大或重的样品而设计。日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310-华普通用 参考价:面议
日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310通过 VPD-TXRF 进行晶圆表面污染测量超痕量元素表面污染的测量日本理学MiniFlex 600 台式X射线衍射仪-华普通用 参考价:面议
理学台式X射线衍射仪系统将重新定义你所认为的X射线衍射仪方式。日本理学波长色散X射线荧光光谱仪WDA 3650-华普通用 参考价:面议
波长色散X射线荧光光谱仪WDA-3650用于薄膜评估的X射线荧光分析仪同时对各种薄膜的薄膜厚度和成分进行无损、非接触式分析日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪(XRD) 参考价:面议
日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪(XRD)粉末衍射、薄膜计量、SAXS、面内散射、操作测量日本理学同步热分析仪DSC8231-华普通用 参考价:面议
日本理学同步热分析仪DSC8231测量体重变化和吸热或放热反应日本理学差示扫描量热仪DSC8231-华普通用 参考价:面议
差示扫描量热仪DSC8231差示扫描量热法(DSC)量化熔化、转变、结晶和玻璃化转变温度等反应中的能量变化,主要用于研发;以及聚合物、制药领域的质量控制。德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350-华普通用 参考价:面议
蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350结合了高分辨率场发射扫描电镜(FE-SEM)的出色成像和分析性能,以及新一代聚焦离子束(FIB)的优异加工能力。德国蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550-华普通用 参考价:面议
蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550结合了高分辨率场发射扫描电镜(FE-SEM)的出色成像和分析性能,以及新一代聚焦离子束(FIB)的优异加工能力。德国蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM系列-华普通用 参考价:面议
德国蔡司 MultiSEM 研究合作计划速度非凡的扫描电子显微镜福禄克Raytek® Compact MI3 红外测温探头/高温计-华普通用 参考价:面议
雷泰MI3红外温度传感器代表在连续非接触式温度监测的新一代的性能和创新,并广泛应用于OEM应用和制造工艺中。BUCHI Pure 制备色谱系统-华普通用 参考价:面议
Pure色谱仪非常的紧凑,确保的安全性并且易于应用在Flash快速分离和HPLC样品制备中。Chroma Model3650 SoC测试系统-华普通用 参考价:面议
Chroma 3650可在一个测试头中,提供最多512 个数位通道,并具备高产能的平行测试功能, 可同时测试32 个待测晶片,以提升量产效能。福禄克ThermoView TV40 工业固定式热成像系统-华普通用 参考价:面议
全天候监控您的工艺、产品和生产现场福禄克Raytek® MP150 高速线扫描红外测温仪-华普通用 参考价:面议
雷泰MP150红外行扫描仪是专为使用在高要求的工业环境中使用,并可以测得运动物体的准确温度图像。福禄克Raynger 3i Plus手持式红外测温仪-华普通用 参考价:面议
Raytek® Raynger 3i Plus 高温手持式红外测温仪设计用于满足众多工业应用中的过程性能要求,包括原生和再生金属加工以及石化和发电厂运行...日本理学Simultix 15波长色散X射线荧光光谱仪 参考价:面议
40 多年来,日本理学Simultix 15波长色散X射线荧光光谱仪系统已被广泛用作需要高吞吐量和精度的行业(例如钢铁和水泥)过程控制的元素分析工具日本岛津AGS-X系列电子试验机-华普通用 参考价:面议
AGS-X系列试验机采用主机与控制装置一体化结构,占地面积小,是操作简便的小型化电子试验机。该系列机已经取得国际CE认证,是目前业内性价比较高的试验机。日本岛津EZ-Test系列单柱式电子试验机-华普通用 参考价:面议
电子试验机易于使用、紧凑、时尚的框架包含增强功能,使测试能够高效进行。Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪-华普通用 参考价:面议
使用 4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和*工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能电学特性...功率器件动态参数测试系统DT10-华普通用 参考价:面议
专业测试SiC及Si基IGBT、MOSFET动态时间参数特性,测试范围可达3500V 4000AZEISS SPECTRUM系列三坐标测量仪-华普通用 参考价:面议
ZEISS SPECTRUM系列拥有ZEISS SPECTRUM和ZEISS SPECTRUM plus, 其能够让您的生产确定性和效率将提升至一个新的高度。