牛津仪器网络讲堂：X射线荧光法直接测定NiP镀层厚度和含量
主题：X射线荧光法直接测定NiP镀层厚度和含量
开始时间：2017-1-12 15:00
结束时间：2017-1-12 16:00
主讲人：董松林，牛津仪器（上海）有限公司台式荧光应用工程师，长期从事X射线荧光仪和XRF分析方法的应用与技术支持工作。
【内容简介】
化学镍（NiP）镀层应用在表面处理行业非常广泛，但生产工艺控制中对于NiP镀层的厚度和成分同时监控是一个难点。传统的分析方法是预设NiP比例，然后测试厚度。无法做到同时测量。
本次讲堂介绍一种使用XRF方法同时测定NiP镀层厚度和组成的解决方案。通过对测试所需仪器的硬件介绍，几个具体案例和实际测试数据来说明NiP厚度与组成同时测量的可行性。
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