“原子力显微镜技术新进展研讨会”四川大学站
1986年成立至今，原子力显微镜技术已经过30年的发展。30年间，AFM的功能也从初的表面形貌测量发展成功能全面的材料物性测试工具。随着技术的进步，如今第三代原子力显微镜能够实现高分辨率成像，快速扫描的能力，并且更易操作。
牛津仪器原子力显微镜将在南京大学和四川大学分别举行“原子力显微镜技术新进展研讨会”。两场研讨会将分别就AFM技术进展和纳米电学性能表征测试等议题进行分享，我们还为大家现场演示超高分辨率，具有快速扫描能力的CypherS型AFM。欢迎大家参加！
“原子力显微镜技术新进展研讨会”四川大学站
时间：2016年11月23日
地点：四川大学望江校区（成都市一环路南一段24号红瓦寺街北苑宾馆三楼茶坊大会议室）
| 时间 | 安排 | 报告人 |
| 8：30-9：00 | 注册 | |
| 9：00-9：40 | AFM简述 | Dr. David BECK |
| 9：40-10：15 | 使用AFM的纳米力学方法对材料的表征和研究 | Dr. Jonathan MOFFAT |
| 10：15-10：30 | 茶歇 | |
| 10：30-11：15 | 使用AFM的电学方法对材料的纳米尺度表征和研究 | Dr. Jonathan MOFFAT |
| 11：15-12：00 | AFM技术的新进展和应用 | AR |
| 13：30-15：15 | AFM高分辨成像模式展示 | AR |
| 15：30-17：00 | AFM功能模式展示（PFM\SKPM） | AR |
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