您所在的位置：> 仪器网 > 技术中心 > 解决方案 > 无机配标仪轻松解决光谱类仪器的背景干扰和物理干扰问题

无机配标仪轻松解决光谱类仪器的背景干扰和物理干扰问题

2020年09月30日 16:05人气：448 来源: 北京莱伯泰科仪器股份有限公司 >> 进入该公司展台

　　干扰问题

　　我们在做环境类样品时，首先要配制标准曲线，用相应的标准曲线作为基准测定未知样品中的重金属含量。但由于样品溶液和标准曲线溶液有基质上的差别，往往导致我们的测定结果有所偏差。下面我们具体讨论一下偏差的来源：

　　1 例如火焰原子吸收和icp-oes等仪器，在雾化过程中，由于标准曲线溶液和未知样品消解溶液的表面张力不同，粘度不同，酸度差别等因素，会导致雾化的程度有差异。我们考虑这样一个模型：

　　假设一个小雾滴悬浮在空气中，

　　则有：mg重力=F浮力

　　P压强*s面积=p溶液密度*g重力加速度*v小液滴体积，其中P压强和g重力加速度是恒定的，v/s与形成的小雾滴的直径成比例，p溶液密度与样品基质有关。

　　其中当粘度变大时，导致雾化过程中更容易形成体积大的雾滴，v/s变大，液滴的重力大于浮力，雾滴更容易沉降下来，雾化效率降低。那么由于溶液的差异就会导致结果的偏差。

　　2 再比如icp-oes仪器，它的定性根据是每种元素都有各自的光谱项，每一种元素理论上都有很多条谱线，理论上谱线是没有宽度的线光谱。又由于多普勒变宽，碰撞变宽，自然变宽等的存在，会产生背景光强，因此我们要扣除相应的背景。又由于不同基质的样品中含各种的元素含量有差异，进而使背景的大小有所不同，背景的不同导致结果的偏差。

　　S ∝ a1b1+a2b2+a3b3+……aibi+……

　　S代表：待测元素a的总背景, ai代表不同的元素的浓度值，bi代表ai元素对待测a的背景强调的贡献概率。

　　公式中可以知道，标准曲线溶液和未知样品溶液的基质不同时，如硅，铁，氧，钛等元素含量的差异，会导致S背景的不同，导致测定结果的偏差。

（本文来源：北京莱伯泰科仪器股份有限公司，转载请注明出处）

关注本网官方微信随时阅专业资讯

延伸阅读

全年征稿 / 资讯合作

联系邮箱：970297226@qq.com

版权与免责声明

凡本网注明"来源：仪器网"的所有作品，版权均属于仪器网，转载请必须注明仪器网，。违反者本网将追究相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。
如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。

无机配标仪轻松解决光谱类仪器的背景干扰和物理干扰问题

延伸阅读

版权与免责声明

推荐产品

热门技术文章

推荐展会

推荐会议