芯片卡三轮滚压测试机如何使用
芯片卡三轮滚压测试机技术参数
HY(SL)三轮测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中,测试轮将循环测试100次,芯片前方滚动50次,芯片后方滚动50次,循环频率为0.5Hz,向下的压力为8N。经过测试,检查芯片情况,芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。
序号 | 项目 | 说明 |
1 | 外形尺寸 | L 26 × W 23 × H28 cm |
2 | 重量 | 10 Kgs |
3 | 电源 | AC220V 50-60HZ |
(本文来源: 上海衡翼精密仪器有限公司
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