薄膜电导TOC检测技术
Sievers 薄膜电导率检测技术用于检测总有机碳(TOC)含量,并被证明为十分可靠的检测方法。不同于非分散红外检测(NDIR—non-dispersive infrared)技术,电导率检测法数值相对稳定,也不会随着时间的变化有明显的漂移。因此使用薄膜电导率检测技术,设备无需经常校准,所得到的检测结果也十分稳定。
Sievers薄膜电导率检测技术使用了选择性气体渗透薄膜,只有氧化产生的CO2能通过这层薄膜进入检测舱。从而防止酸、碱和含卤素等杂原子化合物的干扰,因此相比直接电导率法,Sievers薄膜电导率检测法减少了检测中的“假正“现象,提供了无比优异的选择性、灵敏度、稳定性、度和准确度。
(本文来源: 宁波市江东欧亿检测仪器有限公司
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