SRM 1976c是美国国家标准技术研究院(NIST)发布的X射线粉末衍射(XRD)仪器校准标准品。这种标准品通常用于校准X射线粉末衍射设备的线位置和强度,以确保设备在不同角度(如2θ角)下的测量准确性。
具体来说,SRM 1976c X射线粉末衍射标准品由一个烧结的氧化铝圆盘组成,其直径约为25.6毫米,厚度为2.2毫米。这种固体形式的SRM消除了由样品加载过程引入的强度测量中的任何可变性,从而提高了校准的准确性。
SRM 1976c的校准过程通常涉及使用X射线粉末衍射设备对标准品进行扫描,并记录在不同角度下的衍射强度。然后,将记录的数据与NIST提供的参考数据进行比较,以评估设备的准确性和性能。
在使用SRM 1976c X射线粉末衍射标准品进行校准时,需要注意一些关键因素,如实验室的温度变化、功率波动等环境因素对测量结果的影响。因此,在进行校准时,建议对测量方法本身进行广泛的研究,以确保获得准确和可靠的结果。
总的来说,SRM 1976c是X射线粉末衍射设备校准的重要工具,可以帮助用户确保设备的准确性和可靠性,从而提高实验结果的准确性和可信度。
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展会城市:上海市展会时间:2024-06-04