介质损耗测试装置与各款高频Q表配套可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。介质损耗测试装置采用了数显微测量装置，因而读数方便。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。
技术参数：
平板电容器： 极片尺寸Φ50mm/Φ38mm 可选, 极片间距可调范围：≥15mm
夹具插头间距：25mm±0.01mm
夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
测微杆分辨率：0.001mm

HJBG-3D高频Q表

高频Q表是一种通用的，多用途，多量程的高频阻抗测量仪器。它可测量高频电感器，高频电容器及各种谐振元件的品质因数（Q值）、电感量、电容量、分布电容、分布电感，也可测量高频电路组件的有效串、并联电阻、传输线的特征阻抗、电容器的损耗角正切值、电工材料的高频介质损耗、介质常数等等。因而高频Q表不但广泛用于高频电子元件和材料的生产、科研、品质管理等部门、也是高频电子和通信实验室的常用仪器。数字显示高频Q表测试回路采用了优化的设计介质材料和优良的涂覆工艺使残值减少。其高频信号源是采用DDS数字合成、Q值测定和显示部分运用了微机技术和智能化管理，数码锁定信号源频率，谐振回路自动搜索，测试标频自动设置技术，使得测试精度更高，使生产线分选测试速度大增。
技术参数：
Q值测量：1-999 三位数显，自动切换量程，可手动设置测量量程
固有误差：≤5%±满度值的2%
工作误差：≤7%±满度值的2%
电感测量：0.1μH-1H 误差<5%±0.03μH
测试频率：10kHz-60MHz 五位数显 DDS数字合成
具有频标自动设置,自动搜索谐振点,Q值合格设置,声光指示
频率误差：3×10-5±1个字
调谐电容：主电容：40-500PF 误差<±1%或 1PF
微调电容：±3PF 分辨率0.2PF