您所在的位置：> 仪器网 > 技术中心 > 产品文库 > 高温对于闭口闪点仪的测量结果的影响情况

高温对于闭口闪点仪的测量结果的影响情况

2020年12月25日 11:51人气：836 来源: 得利特（北京）科技有限公司 >> 进入该公司展台

　　高温对于闭口闪点仪的测量是会造成一定的影响的，所以大家在使用仪器进行工作的时候要注意对于环境的选择，确保温度和湿度在一个合理的区间范围内，不要盲目的去进行操作，以免使得测量结果不够准确。下面得利特来给大家分析一下：

　　1.环境温度如果高于60度，对闭口闪点仪将影响很大，首先是试剂的挥发性，温度高试剂会大量挥发，造成损耗，其次，仪器电解水分过程中，温度过高对仪器的电解时间、速度、重复性，稳定性造成一定的影响。

　　2.使用环境差，外界干扰增多，测量电极的信号采集和传输困难，抗干扰能力减弱，造成仪器测定不准确。

　　3.主板的各电子元件，超过其耐热承受力，耐热性能减弱，同时热辐射的增强，容易烧毁部分电子元器件，造成仪器主板性能不稳定。

　　4.高温高湿环境空气水汽增多，样品吸收水分的几率增大，测定的结果会有很大的误差，造成测量不准确。

（本文来源：得利特（北京）科技有限公司，转载请注明出处）

关注本网官方微信随时阅专业资讯

全年征稿 / 资讯合作

联系邮箱：970297226@qq.com

凡本网注明"来源：仪器网"的所有作品，版权均属于仪器网，转载请必须注明仪器网，。违反者本网将追究相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。
如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。