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非接触式：渦電流法測定-napson手持式涡流法电阻测量仪

2020年11月27日 09:28人气：1686 来源: 深圳市秋山贸易有限公司 >> 进入该公司展台

　　在这里，我们将介绍非接触式(涡流法)电阻测量原理的概况(该原理的详细说明在材料中)。

　　(*在我们的产品中，根据电阻范围，还有另一种非接触式电阻测量方法系统。。此外，关于非接触式测量原理，除了涡流方法外，但很抱歉给您带来麻烦请)

　　涡流法主要用于非接触式，可测量1E-3(1m)至1E + 4(10k)Ω/□电阻范围。

　　它可用于半导体，化合物半导体，液晶和新型碳基材料等广泛领域的测量。

　　涡流测量系统使用电磁感应产生的涡流来测量电阻。

　　非接触式测量探头单元的探头芯(磁性材料)在两侧(上下)以一定的间隙排列。

　　<非接触式测量探头单元的结构>

●在涡流法中，按照以下步骤进行测量。

　　(1)当在探针芯之间施加高频以产生磁通量并且插入样本时，样本中产生涡流。

　　(2)此时，(1)涡电流流过样品→(2)样品中消耗了电流，发生了功率损耗。

　　→③电路中的电流成比例降低。检测该减小的电流值。

　　(3)由于检测到的电流值与样品的电阻成反比关系，请使用此值。

　　座电阻或电阻是从电流值和座电阻的校准曲线(计算公式)得出的。

　　(*计算电阻时需要样品厚度信息)

日本napson手持式探针无损涡流法电阻测量仪

测量规格

　　测量目标

　　半导体/太阳能电池材料相关(硅，多晶硅，SiC等)

　　新材料/功能材料相关(碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等)

　　导电薄膜相关(金属，ITO等)

　　硅基外延，离子与

　　半导体相关的注入样品化合物(GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等)

　　其他(*请与我们联系)

　　测量尺寸

　　无论样品大小和形状如何均可进行测量(但是，大于20mmφ且表面平坦)

　　测量范围

　　[电阻] 1m至200Ω·cm

　　(*所有探头类型的总范围/厚度500um)

　　[板电阻] 10m至3kΩ / sq

　　(*所有探头类型的总范围)

　　*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。

　　(1)低：0.01至0.5Ω/□(0.001至

　　0.05Ω- cm)(2)中：0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)

　　(3 ))高：10至1000Ω/□(0.5至60Ω-??cm)

　　(4)S-高：1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)

　　(5)太阳能晶片：5至500Ω/□(0。 2至15Ω-cm)