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  • 霍尔效应测试系统
    HET-3RT 霍尔效应测试系统
    ¥85000
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    简介:霍尔效应测试系统(霍尔效应测试仪)HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、...

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