HNDL 回路电阻测试仪校验仪 模拟直流标准电阻器 HN系列 接地导通测试仪检定装置 规格齐全

安规测试仪检定装置有以下几种 回路电阻测试仪校验仪 模拟直流标准电阻器 HN系列 接地导通测试仪检定装置 规格齐全

HN8061A

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表（兆欧表）检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路电流：0～2mA    0～20mA
电阻0-200G-1T-10TMentor嵌入式多核框架能消除异构硬件和软件环境的管理复杂性，从而简化SoC系统设计异构多处理对于当今的嵌入式应用来说正变得越来越重要。片上系统(SoC)架构，赛灵思的ZynqUltraScale+MPSoC提供包含四个ARMCortex-A53内核以及两个ARMCortex-R5内核的强大异构多处理基础架构。除了核心的计算基础架构外，SoC还包含一系列丰富的硬化外设IP和FPGA架构，可实现灵活的设计模式，从而帮助系统开发人员创建高性能多处理系统。

HN8062A接地电阻表校验装置

用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表，也可做普通电阻箱使用，具有调节范围宽，使用方便，造型美观等优点。同时，信号灯和警示灯的自适应可避免行人和司机不必要的等待。无论十字路口是否安装信号灯，安装传感器对行人、机动车司机都将受益。包括在内的很多，行人可通过按下行人通行按钮，快速通过马路，但据调查，在道路畅通时段，高达7%的行人在按下申请行人按钮后，信号灯并没有变为绿灯时便通过马路，这意味着在信号灯变绿时，已无行人等待，从而造成机动车无谓的等待，并因此产生高达3倍的化碳排放。通过行人检测传感器，当检测到路口没有行人时，传感器会将信号自动发给信号控制机，安排机动车的通过，从而提升3%的车流通行率。

HN8063A耐电压测试仪校验装置

1、测量准度： 

电压：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

准度：1级  0.5级  0.2级热电动势(也称为热偏移)的这一参数指标的重要性在许多电阻仿真模块可能常常被忽略。这里我们带大家认识一下热电动势以及其重要意义。热电动势可以在任何有不同金属或者不同温度的地方产生。这个包括但不局限于继电器。在有源模块中，冷却系统会导致PCB有一个温度剖面，因此产生的热电动势是不可避免的。强制性空气冷却液容易造成继电器顶部和底部（PCB旁）之间的温差，从而产生更复杂的温度分布，如果温度分布和金属变化有关，则会出现热电动势电压。

HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置

一、性能特点

1、源、表测量范围：

       电压源（AC，DC）：电压：250V、50V、5V

       电流源（AC，DC）：20mA、2mA

       频率计：10-100Hz空中协议仪功能空中协议仪是一种的数字化检测设备，可以采集和不同的物联网和传感器网络的通讯协议在空中传输的数据包装，其中对符合IEEE802.15.4标准的物联网传感器网络网络的采集和，是物联网综合仪空中协议仪的一个基本配置功能；对于其它通讯标准的采集和，可以采用不同的协议扩展模块来实现。，我们选择进入物联网综合仪上的空中协议功能(IEEE802.15.4协议仪功能)。

HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置

2、一次额定电流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、电阻四盘连续带电可调。

4、直接指示一次电流值，可做交直流大电流标准表用。在过去25年里，微控制器的内部外设发生了巨大的变化。初许多微控制器只包含RAM、ROM，也许还有基本的定时器。随着微控制器的发展，更多的外设被基础到这种单价不超过一美元的器件中。定时器/计数器、PWM和包括UART、SPI和I2C在内的标准串行接口常用于这些廉价的微控制器。另一个重大变化是32位CPU正在取代同一价格范围的8位器件。但是即便有如此丰富的特性，对于廉价微控制器而言，随时都存在微控制器厂商不能迅速支持的项目硬件接口或新的方接口。

HN8068A型回路电阻测试仪，直流电阻测试仪检定装置

2 一次额定电流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。

4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。

回路电阻测试仪校验仪 模拟直流标准电阻器 HN系列 接地导通测试仪检定装置 规格齐全简介40多年来，数字功能测试一直是测试领域的一部分。早的测试系统采用简单的静态数字测试功能。然而，随着这些数字设备，模块和系统的性能、复杂性的发展，数字测试仪器也在不断发展。特别是，器件切换速率相关技术的持续进步已经对测试仪器和系统提供了相对更高的性能要求，而今天的半导体测试系统提供了具有高功耗的数GHz测试功能。在军事-航天应用，数字功能测试要求不断的提出一系列特的要求和挑战。与设备测试相关的测试要求不同，M-A应用主要侧重于支持模块和系统级测试。