清洁度分析系统BH-CIA200
显微镜
立体显微镜（符合ISO16232规定），放大6倍-50倍。
检测内容
▪ 杂质平面尺寸
▪ 杂质数量
▪ 杂质形状分类：颗粒或纤维
▪ 杂质性质分类：反光（金属），亚光（非金属，金属氧化物）
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返回产品中心>产品参数产品编号:清洁度分析系统BH-CIA200所属品牌:BAHENS产品型号:BH-CIA200额定功率：按实际方案提供所属类别:清洁度分析系统所属用途:ISO16232应用领域:产品特性:清洁度分析系统BH-CIA200对所拍摄的杂质
立体显微镜（符合ISO16232规定），放大6倍-50倍。
▪ 杂质平面尺寸
▪ 杂质数量
▪ 杂质形状分类：颗粒或纤维
▪ 杂质性质分类：反光（金属），亚光（非金属，金属氧化物）
▪ 采集过程自动拍照、照片自动保存，进度状态实时可见；
▪ 照片信息存入数据库，方便查询；
▪ 提供视场图片浏览功能，可以实现视场定位回溯、重新拍照等功能。
▪ 系统自动识别颗粒、自动分析颗粒类别、自动统计颗粒参数。
▪ 同时支持修改颗粒。
▪ 提供多种统计分析工具：MAP图、颗粒列表、统计结果、直方图等；
▪ 专 业清洁度报告,支持模板化报告生成模式；
▪ 包含统计数据、评级、滤片全貌图、颗粒照片等信息；
▪ 支持多种扫描方式：矩形区域、圆形区域、环形区域、扇形区域等；满足各种应用需要；
▪ 新精 确模式可以轻松辨认原本会产生误判的亚光色金属颗粒。
▪ 德国Märzhäuser原装高精度电动扫描型自动扫描台；行程76×52mm。
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