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返回产品中心>2016年推出的微区X射线荧光分析仪Atlas,作为一款能量色散型X射线荧光分析仪(EDXRF),Atlas的空间分辨率、操作自动化,束斑尺寸等诸多性能指标表现优异,目前Atlas有两个型号M和X(尺
电路板的X射线面分布图,(Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn)
Atlas-M型号技术参数
样品类型 | 固、液、颗粒、粉末 |
测试介质 | 空气、真空、氦气 |
激发源 | 12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA |
激发源参数: 靶材 束班尺寸 滤片 | 多毛细管或准直器 铑(其他可选) 5μm-1000μm连续可调 8片 |
探测器 分辨率 活区面积 | SDD 135-145ev 50-150mm2 |
样品台 | X、Y、Z三轴可动 320X320mm可移动范围 载重10Kg |
Mapping尺寸 样品移动速度 | 220X200mm 300mm/s |
元素分析范围 | Na-U |
特点:
1、 束斑尺寸最小可达5μm;
2、 大样品台行程(320×320×120mm),移动速度可达300mm/s;
3、 多达8片的滤波片选择;
应用领域:
1、 地矿文博;
2、 电子器件;
3、 刑侦医学;
4、 医药检测;
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