BeamScope-P8激光光束分析仪

连续或脉冲>5kHz ，5% 占空比。更高的占空比，效果更好

被测光束功率

见下面注释中的图表.
如. 6 ?W to 3 W, 当满足1 mm 直径 (1/e2) 高斯光束，633 nm, 5 ?m 狭缝时.

光学动态范围

55 dB (= 300,000:1) [75 dB 用中性密度2.0薄膜]

扫描区域形状
针孔 (PA 系列)
单个狭缝 (SS 系列)
X-Y 狭缝 (XY 系列)
二维平台 (M2B)

重要:为了精确测量，光束大小应该< 0.5 x 扫描范围.
带有扩展探头,下面的23mm尺寸可变为35mm。
形状：交叉扫描，扫描长度 x 扫描长度
行扫描，针孔直径 x 23 mm
矩形扫描 7* x 23 mm, (* 5 for 锗, 3 for InAs
梯形扫描 5* x 15/5 mm, (* 3 for 锗, 2 for InAs, 3.5 x 13.5/6.5 for XYPl5)
矩形 45 x 23 mm 扫描区域成像，在该区域扫描像素.

被测量的光束直径/宽度

0.5 ?m to ~25 mm (默认高斯光束时，直径 1/e2 , 峰值的 13.5%)

测量分辨率

0.5 ?m, 或被测光束直径的0.5%, 以较高者为准

测量精度

?1?m 或被测光束直径的?2%

被测光束剖面

X & Y
线性和对数剖面显示模式

被测剖面参数

高斯光束直径
高斯拟合
二阶矩光束直径
刀锋光束直径
面心位置, 相对值和值
椭圆率 + 主轴方向
光束漂移显示

显示的剖面
(注解 1)

仅X , 仅Y, X & Y
二维图 (10,16 or 256 色彩)
三维图 (10,16 or 256 色彩)

更新频率

1~ 2 Hz. 依赖于 PC 处理速度, 扫描剖面和设定的选项

数据分析
Pass/Fail
平均
标准偏差

屏幕上所有被测参数可选Pass/Fail 色彩
光束直径在平均屏幕上进行实时平均和累加平均

功率测量

单位mW, dBm, dB, % 或用户输入(相对于一个用户提供的参考测量值.)

源到狭缝距离

最小1.0 mm

孔径尺寸(注解 2 )
狭缝
针孔

重要: 见扫描区域 (上面 ) ，对于可测光束直径
2.5, 5, 10, 25 和 100 m 宽7 mm长
(5 m 狭缝的平面类型是5 mm长)
5, 10, 25 and 50 m 直径(更大或更小针孔需特别订货)

波长范围
硅探测器
锗探测器
InAs
新热释电材料

190~ 1150 nm
800 ~ 1800 nm
1500 ~ 4 μm
190 nm ~ 20 μm

固定

¼-20 & M6 螺纹安装孔

温度范围(包括附件)
运行
储藏

10o to 35o C
5o to 45o C

PC要求
PC or Intel-Mac

USB2.0接口, Windows XP or Vista; 1024 MB RAM; 10 MB 硬盘驱动空间;
1024x768显示器.