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BMCS-200型薄膜材料参数测试系统

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BMCS-200型薄膜材料参数测试系统应用于高低温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析,通过配置不同的测试设备,完成不同参数的测试。是一代高低温电阻系统,性能优越,*科研级别的测试装置,是科研院所和高等学府的设备。

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BMCS-200型薄膜材料参数测试系统

关键词:薄膜介电,,200度

    

     

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BMCS-200型薄膜材料参数测试系统应用于高低温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析,通过配置不同的测试设备,完成不同参数的测试。是一代高低温电阻系统,性能优越,*科研级别的测试装置,是科研院所和高等学府的设备。

一、主要用途:

1、测量以下参数随温度(T)、频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律:

2、测量电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(¢)、电导(G)、电纳(B)、导纳(Y)、损耗因子(D)、品质因素(Q)等参数,

3、同时计算获得反应材料导电、介电性能的复介电常数(εr)和介质损耗(D)参数。

4、可测试低温环境下材料、器件的介电性能

5、测试聚合物压电薄膜的谐振频率、谐振阻抗、电容、频率响应曲线等参数。

二、主要技术参数:

1、温度范围      室温-200℃

2、测温精度      0.1℃

3、升温速度      1—20。C/min

4、控温模式      程序控制,提供常温、变温、恒温、升温、降温等多种组合方式

5、通讯接口      RS-485/232

7、测试频率      20Hz~1MHz

8、电材质      银合金电

9、测量精度:0.1%;

10、保护电    带保护电,消除寄生电容、边界电容对测试的影响

11、电干扰屏蔽   电引线带同轴屏蔽,样品平台带屏蔽罩

12、软件功能:自动分析数据,可以分类保存,样品和测量方案结合在一起,生成系统所需的实验方案,输出TXT、XLS、BMP等格式文件

13、测量方案    提供灵活、丰富的测试设置功能,包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合

15、外形尺寸    L360mm*W370mm*H510mm

16、净   重          22KG



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