NIST SRM 1976c X射线粉末衍射仪器标准品

NIST SRM 1976c X射线粉末衍射仪器标准品由烧结氧化铝圆盘组成，用于校准 X 射线粉末衍射设备的线位置和强度作为 2θ 角的函数。

NIST SRM 1976c X射线粉末衍射仪器标准品由烧结氧化铝圆盘组成，用于校准 X 射线粉末衍射设备的线位置和强度作为 2θ 角的函数。 SRM 的固体形式消除了由样品加载过程引入的强度测量中的任何可变性。 SRM 1976c 的一个单元由一个直径约为 25.6 毫米、厚度为 2.2 毫米的烧结氧化铝圆盘组成。

材料说明：

用于生产此 SRM 的制造工艺是为生产电子元件基板而开发的。用作这些基材前体的氧化铝粉末具有高相纯度（刚玉结构），具有片状颗粒形态。血小板的直径通常为 5 μm 至 10 μm，厚度为 2 μm 至 3 μm。圆盘的压实过程导致轴对称纹理基面趋向于与圆盘表面平行。纹理的这种轴对称特性允许样品以任何关于表面法线的方向安装。使用小百分比的钙长石玻璃相对压块进行液相烧结。未检测到结晶杂质。液相烧结中涉及的玻璃相有效地防止了颗粒间的接触，并在从烧结温度冷却碎片的过程中松弛。这导致微应变的最小发展及其相关的线展宽；尽管可以检测到一些微应变，因为具有 tanθ 依赖性的高斯展宽。

鉴于此，以及基本不存在微晶尺寸展宽，NIST SRM 1976c X射线粉末衍射仪器标准品可用于获得仪器轮廓函数 (IPF) 的近似值。但是，不推荐使用 SRM 1976c 进行定量微观结构分析。包含该 SRM 原料的圆盘是在单一的专用生产运行中制造的，以确保微观结构在晶粒尺寸、形状、微应变和纹理方面的一致性。

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