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LPN-GXPII 干涉法线胀系数测定仪

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实验内容: (1)利用光的干涉测定线胀系数;(2) 迈克尔逊干涉仪的调整与使用双导轨、双动镜、平台式半导体激光器:波长625nm
温控范围:50--120℃,任意选择,数显
恒温稳定度:±0.1℃
测温范围:-50--125℃, 三位半数显,精度:±0.1℃

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实验内容: (1)利用光的干涉测定线胀系数;(2) 迈克尔逊干涉仪的调整与使用双导轨、双动镜、平台式半导体激光器:波长625nm
温控范围:50--120℃,任意选择,数显637812373425157348445.jpg
恒温稳定度:±0.1℃
测温范围:-50--125℃, 三位半数显,精度:±0.1℃实验内容: (1)利用光的干涉测定线胀系数;(2) 迈克尔逊干涉仪的调整与使用双导轨、双动镜、平台式半导体激光器:波长625nm
温控范围:50--120℃,任意选择,数显
恒温稳定度:±0.1℃
测温范围:-50--125℃, 三位半数显,精度:±0.1℃

实验内容: (1)利用光的干涉测定线胀系数;(2) 迈克尔逊干涉仪的调整与使用双导轨、双动镜、平台式半导体激光器:波长625nm
温控范围:50--120℃,任意选择,数显
恒温稳定度:±0.1℃
测温范围:-50--125℃, 三位半数显,精度:±0.1℃

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