k4291726 材料光学性能测试仪

材料光学性能测试仪
材料光学性能测试仪，采用高性能微处理器为主控CPU，大容量数据存储器，可连续存储正点数据100天以上

材料光学性能测试仪

主要技术参数 
　　1.测量范围：0-*；
　　2.重复精度：0.3%；
　　3.环境温度：23℃±5℃；
　　4.相对湿度：<85%；
　　5.电源：220V±10%；
　　6.TRM-FX2材料光学性能测试仪，采用高性能微处理器为主控CPU，大容量数据存储器，可连续存储正点数据100天以上，数据采样率高于0.5秒/通道，工业控制标准设计，便携式防震结构，大屏幕汉字液晶显示屏，轻触薄膜按键，操作简单。适合在恶劣工业环境使用。具有停电保护功能，当交流电停电后，由充电电池供电，可维持48小时以上。

材料光学性能测试仪
　　　6.1外观尺寸：金属外壳350×150×300（mm）；
　　　6.2数据存储容量：3000条数据；
　　　6.3数据存储内容：时间，总辐射瞬时功率，反射辐射的瞬时功率，反射率，吸收率，透光率；
　　　6.4显示内容：时间，总辐射瞬时功率，反射辐射的瞬时功率，反射率，吸收率，透光率；
　　　6.5标准RS232接口与管理微机有线连接，实时传送采集数据，并可下载数据存入微机；
　　7.材料光学性能分析软件在windows98以上环境即可运行，实时显示各路数据，每隔10秒更新一次，检测数据自动存储（存储时间可以设定），实时显示测试结果，自动计算并绘制反射率，吸收率，透光率曲线图，显示材料对紫外光，可见光，红外光的反射吸收比例与打印机相连自动打印，数据存储量达十年以上，数据存储格式为EXCEL标准格式可供其它软件调用。
　　8.光辐射传感器采用专业光辐射原理设计，一套分三种光接收器（光谱范围：280---3000nm，400---3000nm，700---3000nm），可测试材料对紫外（280—400nm），可见（400—700nm），红外光（700—3000nm）的反射率，吸收率，透光率；

材料光学性能测试仪
　　　8.1 测量范围：0----2000W；
　　　8.2 测量精度：小于5%；
　　　8.3 分辨率：1W；
　　　8.4 光谱范围：A：280---3000nm， B：400---3000nm， C：700---3000nm