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TSC-150F-2P 芯片耐受检测冷热交替循环冲击试验箱

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芯片耐受检测冷热交替循环冲击试验箱
两箱冷热冲击试验箱(两箱移动型冷热冲击试验箱)用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,借以在短时间内试验其热胀冷缩所引|起的化学变化或物理伤害。

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芯片耐受检测冷热交替循环冲击试验箱

两箱冷热冲击试验箱(两箱移动型冷热冲击试验箱)用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,借以在短时间内试验其热胀冷缩所引|起的化学变化或物理伤害。

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适用的对象包括金属,塑料,橡胶,电子等材料,可作为产品改进的依据或参考。

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芯片耐受检测冷热交替循环冲击试验箱

我们的冷平衡,是采用控制制冷输出的方式,在达到-35度左右的时候,适量缩减制冷量,以达到-40度的稳定,即不伤害压缩机,同时电量节约35%左右。

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控制系统:

主控制器采用进口日本"0Y0"双回路高精度液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏,可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态,PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式,仅需设定温度,就可实现制冷机自动运行功能。控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示。报警,配置485通讯接口及运行软件设定精度:温度:0.1°C时间: Is用户程序容量:10X99段。运行方式:程序运行,恒定运行。独立超温保护仪表。设备工作时间累计计时器。低温区、高温区转换时间小于等于15秒。温度 恢复时间小于等于5分钟。

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