LQ-TS 芯片测试高低温冲击箱

芯片测试高低温冲击箱是给工业产品、电子产品做高低温温度冲击实验用的所以还可以叫温度冲击实验箱或者高低温冲击实验箱。温度冲击箱工作原理是由测试室、高温室和低温室组成。

芯片测试高低温冲击箱是给工业产品、电子产品做高低温温度冲击实验用的所以还可以叫温度冲击实验箱或者高低温冲击实验箱。温度冲击箱工作原理是由测试室、高温室和低温室组成。试品放置于测试室，高温室和低温室内不可放置试品只是储存不同的温度用来做产品冲击时用。高温室内的空气预热到一定的高温温度；低温室内的空气预冷到一定的低温温度。当进行低温的冲击试验时，低温室将预冷的温度通过空气吹入测试室；当进行高温的冲击试验时，高温室将预热的温度通过空气吹入测试室；这样则能达到不同的温度冲击试验的效果。

芯片测试高低温冲击箱的主要技术参数：

1．内箱尺寸：   600*500*500MM(W*H*D)（更大的尺寸或者更小的尺寸都可以致电柳沁定制）。

2. 外部尺寸：    1830*1950*1550 MM(W*H*D)（一般外尺寸会有一点点偏差属于正常现象）。

3．试验箱温度设定范围：－65℃～+150℃。

4．高温箱温度设定范围: +65℃～200℃。

5. 低温箱温度设定范围:-10℃～-75℃。

6．降温时间：      +20℃～-75℃≤60min。

（注：降温时间为低温室单独运转时的性能并非冲击时间）

试验方式：试验时待测物试验箱里静静的摆放着，温度在高温箱及低温箱内受试验条件及控制器指标根据冷热冲击要求通过气体分别把冷热温度带动过来完成交替冲击的试验条件。

温度波动度：   ±0.5℃。

9．温度均匀度:    ±2.0℃。

(依量测规范:量测SENSOR置放点,离内箱壁内尺寸1/10处)。

10．冲击复归时间：-55℃～150℃约需3~5分钟。

11.试验箱冷热温度转换移动时间:≦10秒。

12.高低温冲击恒温时间各为30分钟。

13．深圳冷热冲击试验箱试样限制：本实验设备禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存；腐蚀性物质试样的试验或储存；生物试样的试验或储存；强电磁发射源试样的试验或储存。