LQ-TS 高低温冲击循环机

高低温冲击循环机与高低温冲击试验机是同款同功能同设计的试验机，由于部分客户在做测试时用低温冲击试验功能多于高温冲击试验，所以他们则称它为低温冲击试验机或者低温冲击机，当然也可以缩短叫冲击试验机。

高低温冲击循环机与高低温冲击试验机是同款同功能同设计的试验机，由于部分客户在做测试时用低温冲击试验功能多于高温冲击试验，所以他们则称它为低温冲击试验机或者低温冲击机，当然也可以缩短叫冲击试验机。

高低温冲击循环机的用途：

该试验箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，主要用于各种各类型的电子产品在模拟冷温、热温时温度瞬间变化的气候条件下的适应性试验，对电子产品的物理以及其相关性能进行测试或试验，大概详情如下：

1.在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价电子产品可靠性达到预定指标的情况。

2.生产电子产品阶段为监控生产过程提供信息。

3.对电子产品的定型进行可靠性鉴定或验收。

4.暴露和分析电子产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理。

5.为改进电子产品的可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据。

的参照标准：

GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温。

GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温。

GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件。

GJB150.3A-2009 装备实验室环境试验方法第3部分高温试验。

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式。

SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式。

GB/T2423.22-1989温度变化试验。

GJB360.7-87温度冲击试验。

IEC68-2-14_试验方法N_温度变化。

GJB367.2-1987 通信设备通用技术条件 环境试验方法。

GB/T 2423.22-2002温度变化。

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则。

EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。