LQ-TS 移动式冷热冲击试验箱

移动式冷热冲击试验箱适用于电子电器零组件、通讯组件、自动化零部件、汽车配件、化学材料、金属、塑胶等行业、航天、国防工业、BGA、兵工业、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物对高、低温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩的物理环境产出的化学变化或物理伤害，可确认各种产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它,目前此设备是工业产业共认的理想测试工具。

移动式冷热冲击试验箱适用于电子电器零组件、通讯组件、自动化零部件、汽车配件、化学材料、金属、塑胶等行业、航天、国防工业、BGA、兵工业、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物对高、低温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩的物理环境产出的化学变化或物理伤害，可确认各种产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它,目前此设备是工业产业共认的理想测试工具。

移动式冷热冲击试验箱的技术参数:

1.内箱尺寸：W400mm*H500mm*D400mm(柳沁可根据顾客需要做出更多合适尺寸的设备）

2.外箱尺寸：以实际尺寸为标准。

3.高温槽预热温度范围：+60℃～200℃；

4.升温时间： +60℃～200℃≤30min；

5.低温槽预冷温度范围： -75～-10℃；

6.降温时间： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降温时间为低温槽单独运转时的性能﹚

7.试验方式： 气动风门切换

8.温度冲击范围： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚

9.温度波动度： ±0.5℃

10.温度偏差： ±2.0℃

11温度恢复时间： ≤5分钟

12.试样限制：本实验设备禁止易爆、易燃、易挥发性物质试样的试验或储存；腐蚀性物质试样的试验或储存；