元素检测薄膜TF-160

美国Premier X-ray样品膜（X-ray Film）以其低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。元素检测薄膜TF-160

一、美国Premier XRF样品膜：

美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。

美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。元素检测薄膜TF-160

X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。元素检测薄膜TF-160

二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：

日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

目录编号：

CAT. NO 薄膜材料       厚度       长度       数量       描述

TF-160    Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil)      76mm x 91.4m      1卷/盒    Mylar®Rolls连续卷轴