SM245 美国SP高速CCD光纤光谱仪

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模内浇口分离自动化，降低对人的依赖度；传统的塑胶模具开模后产品与浇口相连，需二道工序进行人工剪切分离，模内热切模具将浇口分离提前至开模前，消除后续工序，有利于生产自动化，降低对人的依赖。

美国SP高速CCD光纤光谱仪SM245是一款像素高达2048的高速CCD光谱仪。电路设计的提升，使得该光谱仪的暗噪声和探测速度一样得到了提升。这方面的性能提升更加适合在光谱和色度测量方面的应用。

美国SP高速CCD光纤光谱仪

美国SP高速CCD光纤光谱仪SM245是一款像素高达2048的高速CCD光谱仪。电路设计的提升，使得该光谱仪的暗噪声和探测速度一样得到了提升。这方面的性能提升更加适合在光谱和色度测量方面的应用。

硬件方面，SM245可以根据需要，采用狭缝和光纤两种输入方式。数据输出采用16bit精度的USB1.1/2.0接口。同时USB接口支持8通道配置，使得该光谱仪在分辨率和光谱探测范围方面，以及双光谱仪系统方面有更多的可能。

UV波段的增强设计，使得光谱仪在500nm以下波段的灵敏度提升了20-50%。

软件采用SP提供的SM32Pro Windows，包含SDK和DLLs，易学易用，方便二次开发。

产品特点

* 高性价比，科研级性能

* 低噪声，低杂散光

* 高探测速度

* 紫外增强探测器

* 灵活的光学输入，狭缝和光纤可选

* 波长范围覆盖200-1050 nm

* 为弱光条件新升级的自动快门

* 16bit精度的USB 1.1/2.0接口

型号	SM245
探测器	Sony ILX511 CCD 像素：2048 像元：14μm×200μm 阱深：62,500 e- 灵敏度：1800 V/(lx s) @ 660nm
光谱范围	200-1050 nm
分辨率	0.15 to 10nm（取决于光栅和狭缝）
杂散光	<0.01% at 632nm (<0.05% Ave)
F/#	2.7
暗噪声rms	<35 RMS，16bit /w 35ms
信噪比	>300: 1
最小积分时间	1 ms
数据接口	USB 1.1/2.0 16 bit
光纤接口	SMA905/FC
触发模式	自由运行模式软件触发模式硬件触发：(9-pin connector): TTL边缘触发输入/数字输出
软件	SM32Pro (免费，含SDK)
尺寸	3.54 H× 2.76L × 1.73 D inch.
重量	< 1千克