LQ-TS 冷热冲击试验箱

冷热冲击试验箱常用于电子电器成品或零组件、汽车配件、自动化零部件、塑胶、金属、光电、光伏及高分子材料等行业，测试其对冷温、热温的反复抵抗力及产品处于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量及改善产品的品质。

冷热冲击试验箱常用于电子电器成品或零组件、汽车配件、自动化零部件、塑胶、金属、光电、光伏及高分子材料等行业，测试其对冷温、热温的反复抵抗力及产品处于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量及改善产品的品质。

冷热冲击试验箱参数可选择如下：

实验箱冲击温度：高温 +60～150℃（固定）.低温 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃)D：( -10～ -65℃)（可选择其中一个低温配高温）

高温储温箱高温范围可达：+60 ~200℃.

低温储温箱低温范围可达：-10℃~-75℃

高低温转换时间：≤10S

风门启动时间：≤3S

高低温恢复时间：3~5min（非线性空载下）

预冷区降温速度： ≥2℃/min（非线性）

预热区升温速度： ≥3℃/min（非线性）

控制精度：温度±0.2℃（指控制器设定值和控制器实测值之差）

温度波动度：≤0.5℃（温度波动度为中心点实测高温度和低温度之差的一半）

温度均匀度：≤2.0℃（温度均匀度为每次测试中实测高温度和低温度之差的算术平均值）

满足以下标准:

GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备

GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则

GB/T2423.22-1989温度变化试验；

GB/T 2423.22-2002温度变化

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则

GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验

GJB360.7-87温度冲击试验；

GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验

IEC68-2-14_试验方法N_温度变化

EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估