1、众多独立分析实验室的主力军
2、通用磁扇区二次离子质谱仪:比飞行时间(TOF)SIMS要快,比四级杆
SIMS质量分辨率要高
3、高灵敏度痕量元素分析:ppm-ppb级
4、痕量元素深度剖析:亚微米级横向分辨率,纳米级深度分辨率
5、高灵敏度痕量元素二次离子显微图像(2&3D)
二次离子质谱概述
质谱分析-表面微区元素组成
痕量元素深度剖析
二次离子成像及显微图像分布(2&3D)
稳定同位素丰度比
放射性颗粒分析
地质定年
二次离子质谱 IMS 7f
1、众多独立分析实验室的主力军
2、通用磁扇区二次离子质谱仪:比飞行时间(TOF)SIMS要快,比四级杆
SIMS质量分辨率要高
3、高灵敏度痕量元素分析:ppm-ppb级
4、痕量元素深度剖析:亚微米级横向分辨率,纳米级深度分辨率
5、高灵敏度痕量元素二次离子显微图像(2&3D)
6、高分析速度高精度的稳定同位素丰度比
7、可增配防辐射装置,用于放射性样品分析
8、用于半导体、材料和核能科学、生态环境领域、地质学
高分析效率: A high efficiency optical gate is used to eliminate crater edge effects for combining high sputter rate and high dynamic range in the depth profile mode. Full computer control of the instrument allowing unattended analyses with different analysis recipe
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