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Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪

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Omni

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仪器简介

Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技术,拥有15°、90°与173°三个散射角度,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,硬件PALS技术*解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的准确测量,是目前市场上功能大的粒度与Zeta电位分析仪。
散射技术(Back-Scattering)引入高浓度粒度分析的厂家,Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合,突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS(相位分析光散射)技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,实现在同一台粒度分析仪中,既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号,又可以有效地提高了测量浓度上限,可达40%wt;硬件PALS技术(与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高1000倍)的应用,*解决了*以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下(电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍,传统方法没有足够的分辨率进行测量)的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能大的粒度与Zeta电位分析仪。
 

 技术参数

1.粒度测量范围:0.3nm~10μm
2.Zeta电位测量适用粒度范围:1nm~100μm
3.样品浓度范围:0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)
4.典型精度:1%
5.样品类型:蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品
6.样品体积:1~3ml                               7.分子量测定范围:342~2×107Dalton
8.Zeta电位范围:-500mV~500mV                   9.电导率范围:0~30S/m
10.电泳迁移率范围:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s                11.电场强度:0 ~ 60 kV/m
12.电极:性开放式电极,电极材料纯钯;耐腐蚀电极(选件);微量电极(选件)
13.温控范围与精度:-5~110,±0.1         14.pH测量范围:1-14
15.激光源:35mW光泵半导体激光器(可选5mW He-Ne激光器)
16.检测器:高灵敏雪崩型二极管(APD)
17.相关器:4×522个物理通道,4×1011个线性通道,采用动态采样时间及动态延迟时间分配
18.自动趋势分析:对时间、温度及其他参数
19.散射角:15°、90°与173°
20.室温操作情况:10°C ~ 75°C,湿度 0% ~95%, 无冷凝
21.大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg
22.电源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W
23.计算机(选件):商用计算机,包括WindowTM软件
24.自动滴定仪(选件):独立四泵驱动,可对pH值、电导率和添加剂浓度作图
 

 型号对照表

项目
173
173Plus
Omni
ZetaPALS
 
粒度测量功能
分子量测量功能
Zeta电位测量功能
 
 
 
 
散射角
15°与173°
15°、90°与173°
粒度范围
0.3nm-10μm
分子量测定范围
342~2×107Dalton
相关器
4×522个物理通道,4×1011个线性通道
Zeta电位适用粒度范围
1nm~100μm
Zeta电位范围
-500mV~500mV
电导率范围
0-30S/m
电泳迁移率范围
10-11~10-7m2/V.s
电极
开放式型电极
温控范围与精度
-5~110,±0.1
激光源
35mW光泵半导体激光器
检测器
PMT或APD
分析软件
Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件
大小及重量
233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg
 
BI-ZTU自动滴定仪
可对PH值、电导率和添加剂浓度作图
BI-870介电常数仪
直接测量溶剂的介电常数值
BI-SV10粘度计
用于测量溶剂及溶液的粘度
 


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