X射线晶体定向仪
X射线晶体定向仪，针对客户测量大直径、长尺寸硅棒而设计。此仪器为双工作位，一侧用于测3-8英寸晶片111、100面，还可测晶棒参考面110。另一侧用于测直径3--8英寸，长800mm晶棒111、100面。
两边测角仪用户可根据本公司样品规格形状，选配不同的
| 产品标题 | X射线晶体定向仪 | |||||||||||||||||||||||||||||
| 型号 | zc41967 | |||||||||||||||||||||||||||||
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| 简介 | X射线晶体定向仪 X射线晶体定向仪，针对客户测量大直径、长尺寸硅棒而设计。此仪器为双工作位，一侧用于测3-8英寸晶片111、100面，还可测晶棒参考面110。另一侧用于测直径3--8英寸，长800mm晶棒111、100面。 两边测角仪用户可根据本公司样品规格形状，选配不同的测角台，G系列测角仪。
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