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返回产品中心>该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
主要性能指标 ※ 波长范围及峰值波长：
UV－340探头：λ：(315～370)nm；λP＝340nm
※ 辐照度测量范围： (0.1～199.9×103)μW/cm2
※ 紫外带外区杂光： UV340：小于0.05％
※ 余弦特性： 符合国家二级光照度标准
※ 示值相对误差： ±10％
※ 响应时间： 1秒
※ 使用环境： 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
※ 尺寸和重量： 180mm×80mm×36mm；0.2kg
※ 电源： 9V积层电池(6F22型)一只 *注：承接照度、亮度、紫外线测量、辐照计、光强计定制 承接各种光辐射测试技术开发项目
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