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PHL双折射测量仪PA-300

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 北京欧屹科技有限公司
  • 品牌
  • 型号
  • 所在地 北京市
  • 厂商性质 代理商
  • 更新时间 2022/3/4 15:59:01
  • 访问次数 772

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PHL双折射测量仪PA-300是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,*的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。

详细信息 在线询价

PHL双折射测量仪PA-300主要特点:

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。

  • 视野范围内可一次测量,测量范围广。

  • 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。

  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

  • 高达2056x2464像素的偏振相机。


PHL双折射测量仪PA-300应用领域:

  • 光学镜片

  • 智能手机玻璃基板

  • 碳化硅,蓝宝石等


技术参数

项次项目            具体参数
1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】
2测量波长520nm
3双折射测量范围0-130nm
4测量小分辨率0.001nm
5测量重复精度<1nm(西格玛)
6视野尺寸27x36mm到99x132mm(标准)
7选配镜头视野低至7x8.4(扩束镜头)
8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制


北京欧屹科技有限公司

|

手机:17600738803

联系人:王新波

电话:86-010-51528178

传真:86--

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