X 射线荧光光谱仪 HD手持式X射线

◆ XOS® （X-Ray Optical Systems, Inc. X射线光学系统公司） 总部位于美国纽约州*Albany, 为丹纳赫水质平台子公司。
◆ XOS®是一家应用材料和元素分析设备供应商，为重视控制材料质量与性能的行业监管部门和客户提供技术的分析设备。

美国 XOS 公司 X 射线荧光光谱仪

1. XOS 公司介绍：

◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射线光学系统公司) 总部位于美国纽约州*Albany, 为丹纳赫水质平台子公司。

◆ XOS®是一家应用材料和元素分析设备供应商，为重视控制材料质量与性能的行业监管部门和客户提供技术的分析设备。

◆ XOS公司拥有的研发和设计能力，与美国的众多研究机构有合作关系，曾经参与了许多的课题设计，包括美国宇航局的行星元素探测计划（XRF方法）等。

◆ XOS拥有X射线光学技术，能够帮助客户将测量灵敏性提高百倍，减少测量时间，提高空间分辨率，缩小设备尺寸，并且节约设备成本。

◆ XOS公司的光学晶体应用于大型波长色散型XRF、微区聚焦XRF、扫描电镜等X射线仪器。XOS公司与其他著名的XRF生产厂商都有合作，提供给它们光学聚焦晶体。

◆ XOS公司具备HDXRF的技术——DCC，也是一家拥有自己技术的XRF生产厂商，其他品牌XRF的核心部件——X光管、滤光片、准直器等均为外购。

◆ XOS公司在元素分析领域有着技术应用，XOS公司与美国NASA下属的JPL实验室合作，研发了一款用于2020火星计划的XRF元素分析仪

2. 主要技术参数和优点：

1) 采用XOS技术DCC®（双曲面弯晶技术），取代传统的滤光片和准直器，真正实现单色光激发样品；

2) 检测光斑1mm，适合测试不规则样品和细小样品；

3) 采用SDD硅漂移探测器，分辨率高，无需液氮冷却；

4) 满足美国ASTM F2853标准、

5) 可同时测试涂层与基材中的重金属含量、

6) 采用基本参数法，可分析各类未知样品；等等

美国XOS HD  手持式X射线荧光光谱仪

应用领域：

•重金属检测，确保符合法规要求

•快速 筛检和定量分析有毒元素

•在整个供应链中进行合规验证：

-生产过程和成品质量分析与控制（QA/QC)

-仓库和零售商

-监管部门

-现场应用

性能和优势:

•快速完成测试，测试结果可与“湿式化学法” 

•与湿式化学法相比，运营成本更低

•降低第三方测试成本

•改善工作流，降低成本

•提高测试频率，同时降低成本

•在实际筛检和认证应用中，具有 的检测下限

•同时对涂层与基体进行独立分析

•点分析并配有分辨率分析画图像

•用户友好型界面和数据管理，易于操作

HD  应用优势

技术方面

① 传统 XRF 普遍使用金属滤光片，对原级 X 射线进行过滤，会导致荧光减弱，在测试低

含量时，其结果波动较大，不具有参考性。同时滤光片数量有限，在基材有所变化时，

滤光片不一定适用，导致结果偏差。 而 HD  使用双弯晶，具有聚光功能，加强

X 荧光.在低含量检出时，其结果仍具有一定稳定性，检出限较低。而金属中元素较难

检测，HD 将能更好应对。

② 软件方面，HD使用 FP 计算方法，同时显示所有测试元素。并且结合双弯晶特

点，一条曲线就能完成所有金属类别检测；而传统 XRF 需要应对不同的基体，单独曲

线，或者特殊材质，特殊标定校正，操作较麻烦。

产品方面

① HD提供不同操作模式，即可定量分析，亦可便携筛选。 可应对不同场合测试需求

② XOS 技术，涂层基材检测能力，可应对不同种类产品以及不同发展需求。

③ HD 不开放操作人员数据修正功能，源自于丹纳赫以及 XOS 对旗下产品性能稳

定性以及技术自信。

实际使用方面

① 针对样品复杂多样的客户，HD  相对传统 XRF 仪器而言，结果更加真实、可靠、

稳定。

② 1mm 小光斑可测试细小样品及不规则样品的细小部位。

③ 针对复杂的金属样品，其牌号、组成、工艺等方面的差异，都会造成仪器检测的困难，

HD 相对传统 XRF 而言，不需要特定的校准曲线而统一采用 FP 无标样分析技

术，可以更好的应对多种类型的样品，省去测试人员区分样品的工作环节，以及*

避免由此带来的人为误差

产品规格