系统规格:波长范围:350~850nm入射角:30°~ 90°解析度:±0.01°待测样品尺寸:up to 200mm精度:1200A SiO2标准片厚度:(Tks):±6A折射率(N):±0.01 at 632.8nm重复性:1200A SiO2标准片厚度(Tks):±2.5A折射率(N):±0.005 at 632.8nm (5 times)尺寸:140cm×50cm×60cm
系统规格:
波长范围:350~850nm
入射角:30°~ 90°
解析度:±0.01°
待测样品尺寸:up to 200mm
精度:1200A SiO2标准片
厚度:(Tks):±6A
折射率(N):±0.01 at 632.8nm
重复性:1200A SiO2标准片
厚度(Tks):±2.5A
折射率(N):±0.005 at 632.8nm (5 times)
尺寸:140cm×50cm×60cm
应用:
*您想获取产品的资料:
个人信息: