XP750 X-Cite®荧光照明配件光功率测量系统
参考价 | 面议 |
- 公司名称 武汉提沃克科技有限公司
- 品牌
- 型号
- 所在地 武汉市
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2020/12/3 11:48:33
- 访问次数 433
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X-Cite®荧光照明配件光功率测量系统的*设计专门用于测量荧光显微设备的光功率,具有的精准性和易用性。它以瓦特为单位显示数据,不仅可用于实验,XP750 X-Cite®荧光照明配件光功率测量系统还可以用于设备的安装和故障排除。
XP750 X-Cite®荧光照明配件光功率测量系统
X-Cite®荧光照明配件光功率测量系统的*设计专门用于测量荧光显微设备的光功率,具有的精准性和易用性。它以瓦特为单位显示数据,不仅可用于实验,还可以用于设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite® XP750传感器,外形小巧别致,专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能,可以对 X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光光源的输出功率进行测量。为了实现z终的可重复性,X-Cite® XR2100会利用光导管输入端口或物体平面上的X-Cite® XP750光功率计获得的功率数据,来校准X-Cite® exacte照明器。
功能和优势:
功能 | 优势 |
X-Cite® XP750 | |
小巧的显微镜载玻片尺寸 | 适合标准的显微镜压片夹,更方便的直接从物镜测光,无需移除或重新配置设备 |
兼容灯泡,激光和 LED 光源 | 不仅技术,还能适配多种显微镜,更经济 |
探测面积高达 – 10mm | 同时适用低倍和高倍物镜 |
无聚焦要求 | 快速精确测量 |
宽广的波长和功率测量范围 | 适合多样化的用途和显微镜配置 |
根据NIST/NRC标准进行校对 | 测量结果准确,深受用户信任 |
* NIST指美国国家标准技术研究所( National Institute of Standards and Technology)**NRC指(美国)全国科学研究委员会(National Research Council)***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。XP750 X-Cite®荧光照明配件光功率测量系统 |
XP750规格
规格 | |
内含 | 物体平面功率传感器,配备电缆和连接器,适用于X-Cite® XR2100设备 |
功率范围 | 5µW-500mW |
测量分辨率 | 0.01µW-1mW |
误差*** | ±6% |
响应时间 | 600ms(起始),3s(确保稳定显示) |
校准 | 符合NRC** 标准 |
波长范围 | 320nm-750nm |
灯管类型/光源兼容性 | X-Cite® exacte,X-Cite®120系列,汞/HBO,金属卤化物灯,氙灯,LED,激光 |
物镜兼容性 | 4X-63X,空气耦合,FOV直径小于10mm |
显示 | 通过X-Cite® XR2100显示 |
波长选择 | 使用X-Cite® XR2100的上/下按钮或直接使用PC界面,以1nm为度量进行调节 |
数据容量 | 经X-Cite® XR2100 |
PC控制 | 查看/改变设置,确定波长,记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置,下载/输出存储数据 |
指令协议 | 通过X-Cite® XR2100 |
电源 | |
重量 | 2.9oz (82g) |
尺寸(无盖) | 3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm) |
世界认证 | 通过 X-Cite® XR2100 |
质保 | 一年 |
| X-Cite®包含的技术受下列保护:US#6,437,861; US#7,335,901 |
*NIST指美国国家标准技术研究所( National Institute of Standards and Technology)**NRC指(美国)全国科学研究委员会(National Research Council)***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。 |
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