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NMIS 美国Rtec微纳米压痕、划痕仪

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美国Rtec微纳米压痕、划痕仪,配备6容易互换的机械头,高倍率显微镜和成像模块(AFM和3维形貌仪)。

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 压痕和划痕测试仪,配备6容易互换的机械头,高倍率显微镜和成像模块(AFM和3维形貌仪)。
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6种机械头
•压痕头 - 用于测量硬度,薄膜、超薄涂层和疏松材料的弹性模量。
•纳米划痕头 - 通常使用的纳米厚度的薄膜和超薄涂层(DLC,ALD,太阳能薄膜(ITO),光学镀膜等)
•微压痕头 -用来测量硬度,薄膜、涂层和块体材料的杨氏模量
•微划痕头 - 通常为微米级厚度的涂层(PVD,CVD,涂料,装饰涂料等)
•宏刮头 - 通常用于厚的涂层和块体材料
•微米/纳米摩擦学头 - 用于测量磨损,静态和动态摩擦,寿命,附着力,粘滑,等(薄膜和厚膜/涂层和块体材料)
 
特点和亮点
该平台配有防振台,隔声隔热外罩,以确保环境的稳定
•3板式电容传感器实现超高精度的位移测量
•用户自定义的分析算法或模型来计算材料的性能
•ASTM,DIN和ISO标准
 

 


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