X-325i 荧光法残氧顶空分析仪

上海众林荧光法残氧顶空分析仪,荧光衰减法检测原理,样气量只需0.1ml,可用于负压环境,荧光法残氧仪安瓿瓶,西林瓶,输液瓶/袋,卡式瓶等顶空残氧/溶解氧分析。

上海众林荧光法残氧顶空分析仪,荧光衰减法检测原理,样气量只需0.1ml,可用于负压环境,荧光法残氧仪安瓿瓶,西林瓶,输液瓶/袋,卡式瓶等顶空残氧/溶解氧分析。

型号：X-325i

X-325i是一款常用于制药行业集顶空残氧/溶解氧的多功能分析仪。这款设备是基于光学感应的荧光衰减法检测原理，顶空分析过程不对样品进行采样，对顶空样气体积及顶空条件（如负压）无要求，小样气量仅需0.1ml即可完成精准分析。有别于传统方法 诸如电化学、氧化锆等对样气量、顶空条件（负压）有要求的采样分析方式。

使用荧光法特质的荧光贴片OXYDOT ，可以实现无损检测分析，应用于*的包装稳定性研究。也可应用于溶液配液罐顶空残氧分析。

特征：

● 零样气消耗，只需要极少的样气量，少0.1ml

● 可实现对顶空氧及液体溶解氧同时分析检测

● 自动生成数据随时间变化曲线

● 内置温度和压力补偿

● 支持无损检测分析，实现留样分析

● 传感器免维护，无需更换

● 设备零维护，*

● 数据自动无限储存，PDF导出