深圳研究院冷热冲击试验箱

深圳研究院冷热冲击试验箱采用原装日制微电脑大型液晶（320*240dots）中英文显示控制系统。高程式记忆容量，可设定储存100组程式，大循环设定9999cycles,每段时间大设定999Hrs59Mins.

一、深圳研究院冷热冲击试验箱工作原理

1、低温储存箱：箱内温度状态由风道中的加热器、蒸发器以及风机的工作状态决定。经过膨胀阀节流流出的制冷剂进入工作室内蒸发器后，吸收工作室内热量并气化，使工作室温度降低；气化后的工质被压缩机吸入并压缩成高温、高压气体进入冷凝器中被冷凝成液体，再经筛检程式，后通过膨胀阀节流后，重新又进入工作室内蒸发器中吸热并气化然后再被压缩机吸入压缩。如此往复回圈工作，使工作室温度降到设置的温度要求

2、高温储存箱：中央控制器从感温元件检测即时信号，与设定温度信号进行比较，得到比较信号，由仪表PID逻辑电路输出信号控制固态继电器的导通或关断的时间比例调节加热器输出功率大小，从而达到自动控温的目的。

3、冲击温度测试箱：由仪表自动控制高低温气阀，在低温或高温储存室之间切换，分别与高温箱或低温箱形成闭路空气循环系统，迅速达到试验的目标温度。试验箱内温度状态由风道中的加热器、蒸发器、及风机的工作状态决定。试验箱工作室内采用强制轴流“散性”式回圈风工作，可以大大提高设备运行的波动度、均匀度等参数。

二、满足的试验方法

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；GB/T2423.22-1989温度变化试验；GB/T2423.1-1989低温试验方法；GB/T2423.2-1989高温试验方法；GJB360.7-87温度冲击试验；GJB150.5-86温度冲击试验；IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；GJB367.2-87 405温度冲击试验；GB/T 2423.22-2002温度变化；GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估等等。

三、产品介绍

深圳研究院冷热冲击试验箱是深圳杰瑞设备有限公司冷热冲击箱系统的主打款产品，本公司可以根据客户的特殊要求定做，如温度范围，尺寸大小等。设备指标*参照国家标准GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件制造。主要适合用于电工电子电器机械等零组件、自动化零部件、国防工业行业、航空航天研究所、兵工业、通讯产品或组件、汽车成品或配件、金属材料、化学材料、五金塑料、LED、LCD光电、光伏、照明、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对冷、热温的快速反复抵抗力及工业产品处于热胀冷缩的环境时所出现的化学变化或者物理伤害，可确认工业产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为工业行业众多产品改进品质的依据或参考。以便考核产品的适应性或对测试产品的行为作出评价。是新产品研发、样机实验、产品合格鉴定试验全过程*的重要试验手段。

四、技术参数与规格型号：

JR-WD-50 JR-WD-80 JR-WD-100 JR-WD-150 JR-WD-250 JR-WD-480

内部尺寸 WxHxD(mm)

50L:360×350×350  80L:500×400×400  100L:600×400×400

150L:600×500×500  250L:700×600×600  480L:800×800×750

外部尺寸WxHxD(cm)

50L:1560×1750×1440   80L:1700×1800×1440   100L:1800×1800×1440

150L:1800×1900×1540  250L:1900×2000×1640  480L2020×2250×2150

温度范围：低温(B：-40;C：-55;D：-65)~高温+150℃

高温区：+60℃~+200℃

低温区：-10℃~-75℃;

升温时间(蓄热区) ：RT~200℃约需35min

降温时间(蓄冷区) ：RT~-70℃约需85min

温度恢复时间/转换时间： ≤5min内 / ≤10sec内

温度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃