GDAT-A 高频介电常数介质损耗电容率测试仪
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- 公司名称 北京北广精仪仪器设备有限公司
- 品牌
- 型号 GDAT-A
- 所在地 北京市
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2021/4/27 14:59:40
- 访问次数 452
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高频介电常数介质损耗电容率测试仪 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
高频介电常数介质损耗电容率测试仪 满足标准:
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
高频介电常数介质损耗电容率测试仪 技术指标及特点:
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023。
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c.标称误差
频率范围20kHz~10MHz;
固有误差≤5%
工作误差≤7%
频率范围10MHz~60MHz;
固有误差≤6%
工作误差≤8%
2.电感测量范围:14.5nH~8.14H
3.介电常数介质损耗试验仪电容测量:1~ 460
直接测量范围 1~460pF
主电容调节范围
准确度 30~500pF 150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%
注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
4.介电常数介质损耗试验仪信号源频率覆盖范围
频率范围10kHz~50MHz
频率分段(虚拟)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
5. 电感:
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
6.双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
7.双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
8.双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
9.自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
10.全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
11.DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。
12.计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低,治疗 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
特点:
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源。
◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
电桥的振荡器和检测器
1 交流电压源
满足 总谐 波分量小于 1%的电压和电流的任一电压源。
.2 检测器
下 列 各 类检测器均可使用,并可以带一个放大器以增加灵敏度:
1) dian 话(如需要可带变频器);
2) 电 子电压表或波分析器;
3) 阴极 射线示波器;
4) “电 眼”调节指示器;
5) 振 动 检流计(仅用于低频)。
在 电桥 和检测器中间需加一个变压器,用它来匹配阻抗或者因为电桥的一输出端需接地
谐波 可 能 会掩盖或改变平衡点,调节放大器或引人一个低通滤波器可防止该现象 对测量频率的
二次谐波有40 dB的分辨率是合适的
电气绝缘材料的性能和用途
1、电介质的用途
电介质一般被用在两个不同的方面:
用作电气回路元件的支撑,并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘;
用作电容器介质
2、影响介电性能的因素
下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。
2.1频率
因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的,且被用作工程电介质材料,然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。
电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生,重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.
2.2温度
损耗指数在一个频率下可以出现一个大值,这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的,这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。
2.3湿度
极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加,其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的.
注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内
2.4电场强度
存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。
在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关
工式:
介质损耗因数 dielectric dissipation factor
tanδ损耗角δ的正切。
〔介质〕损耗指数
ε〃r
该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积
复相对电容率complex relative permittivi
εr 由相对电容率和损耗指数结合而得到的:
εr = ε'r - jε〃r ----------(3)
ε〃r = εr ----------(4)
ε〃r = εr ----------(5)
ε〃r
Tanδ = -- ----------(6)
ε'r
式中:
εr -------- 复相对电容率;
ε〃r-------- 损耗指数;
ε'r、εr -------- 相对电容率;
介电常数测试仪由BH916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。
《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件,它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品,精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能,克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。
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