高频电容率介质损耗测试仪
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- 公司名称 北京北广精仪仪器设备有限公司
- 品牌
- 型号
- 所在地 北京市
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2021/4/27 14:59:40
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高频电容率介质损耗测试仪 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至低,** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
高频电容率介质损耗测试仪由BH916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。
高频电容率介质损耗测试仪 工作特性
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023;
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
c.标称误差
| A(高频) | C(工频) |
频率范围 | 25kHz~10MHz | 100kHz~10MHz |
固有误差 | ≤5%±满度值的2% | ≤5%±满度值的2% |
工作误差 | ≤7%±满度值的2% | ≤7%±满度值的2% |
频率范围 | 10MHz~60MHz | 10MHz~160MHz |
固有误差 | ≤6%±满度值的2% | ≤6%±满度值的2% |
工作误差 | ≤8%±满度值的2% | ≤8%±满度值的2% |
2.电感测量范围
A | C |
14.5nH~8.14H | 4.5nH~140mH |
3.电容测量
| A | C |
直接测量范围 | 1~460p | 1~205p |
主电容调节范围 | 40~500pF | 18~220pF |
准确度 | 150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1% | 150pF以下±1.5pF 150pF以上±1% |
注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。
4.信号源频率覆盖范围
| A | C |
频率范围 | 10kHz~60MHz | 0.1~160MHz |
CH1 | 10~99.9999kHz | 0.1~0.999999MHz |
CH2 | 100~999.999kHz | 1~9.99999MHz |
CH3 | 1~9.99999MHz | 10~99.9999MHz |
CH4 | 10~60MHz | 100~160MHz |
频率指示误差 | 3×10-5±1个字 |
|
5.Q合格指示预置功能:预置范围:5~1000
6.Q表正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃;
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:约25W;
b.净重:约7kg;
c.外型尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280。
仪器工作原理及特点:
基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表,其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的成就,随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面,采用LCD液晶屏显示各测量因子:Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,频率精度高达1×10-6。
国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε),把被测材料作为平板电容的介质,与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路,以获取测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。
GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ,无须关注量程和换算,*摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况,它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。
LKI-1电感组典型测试数据
线圈号 | 测试频率 | Q值 | 分布电容p | 电感值 |
9 | 100KHz | 98 | 9.4 | 25mH |
8 | 400KHz | 138 | 11.4 | 4.87mH |
7 | 400KHz | 202 | 16 | 0.99mH |
6 | 1MHz | 196 | 13 | 252μH |
5 | 2MHz | 198 | 8.7 | 49.8μH |
4 | 4.5MHz | 231 | 7 | 10μH |
3 | 12MHz | 193 | 6.9 | 2.49μH |
2 | 12MHz | 229 | 6.4 | 0.508μH |
1 | 25MHz | 233 | 0.9 | 0.125μH |
介质损耗测试系统主要性能参数一览表
BH916测试装置 | GDAT高频Q表 | |||
平板电容极片 | Φ50mm/Φ38mm可选 | 频率范围 | 20KHz-60MHz/200KHz-160MHz | |
间距可调范围 | ≥15mm | 频率指示误差 | 3×10-5±1个字 | |
夹具插头间距 | 25mm±0.01mm | 主电容调节范围 | 30-500/18-220pF | |
测微杆分辨率 | 0.001mm | 主调电容误差 | <1%或1pF | |
夹具损耗角正切值 | ≦4×10-4 (1MHz) | Q测试范围 | 2~1023 |
标准配置:
① 高配Q表 一只
② 试验电极 一只 (c类)
③ 电感 一套(9只)
④ 电源线 一条
⑤ 说明书 一份
⑥ 合格证 一份
⑦ 保修卡 一份
使用方法
高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。
1.测试注意事项
a.本仪器应水平安放;
b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;
c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;
d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;
e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;
f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。
2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)
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