平面材料漫反射率测量系统

平面材料漫反射率测量系统结构与Omni-DR300 相同，但系统测试光为由下至上8 度角聚焦光路，样品盛放装置为160x160mm 平台，方便放置各类平面待测物，如各类功能性布料。

Omni-DR600 平面材料漫反射率与透射率测量系统

本系统结构与Omni-DR300 相同，但系统测试光为由下至上8 度角聚焦光路，样品盛放装置为160x160mm 平台，方便放置各类平面待测物，如各类功能性布料。同时，系统整合透过率测量探测器，可测量厚度为5mm 以下的各类透光材料，可将各类透光器件的漫反射率与透过率测量整合成一体。

■ 光谱测量范围：350-2500nm

■ 光谱分辨率：2nm以下

■ 光谱扫描步距：0.2-100nm可连续设置

■ 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm（近红外区）

■ 光度测量准确度：1%以内（紫外-可见区），2%以内（近红外区）

■ 光度测量重复性：1% (450nm-1800nm)

■ 测试试样尺寸(典型)：直径大于15mm，若同时测试透过率，则样品厚度必须小于5mm

尺寸图