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SEE型X荧光土壤重金属分析仪

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SEE型X荧光土壤重金属分析仪,是天瑞仪器结合20年X荧光研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术,研制出具有自主知识产权的,全新一代检测土壤重金属的XRF产品。通过系列不同产品,可以满足各类客户需求,还能用于车载式检测。

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  SEE型X荧光土壤重金属分析仪

 

  SEE系列土壤重金属分析仪是天瑞仪器结合20年X荧光研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术,研制出具有自主知识产权的,全新一代检测土壤重金属的XRF产品。通过系列不同产品,可以满足各类客户需求,还能用于车载式检测。

 

  应用于土壤污染物进行原位测试与修复分析中,应用于各类地质中,检测样品包括矿渣、岩石、泥土、泥浆,特别关注在国家标准中所关注的15大重金属元素,可以根据客户要求针对特殊元素进行定制。样品形态可以为固体、液体、粉末等。

 

  SEE型X荧光土壤重金属分析仪环保土壤行业应用领域

 

  土壤修复

 

  土壤污染普查

 

  土壤调研

 

  环保企业

 

  *

 

  ……

 

  SEE型X荧光土壤重金属分析仪仪器应用领域优势:

 

  设备可以有效的对检测汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒等引起土壤及固废污染:汞主要来自厂矿排放的含汞废水,能在土壤中*存在;镉、铅污染主要来自冶炼排放和汽车废气沉降,如公路两侧的土壤易受铅的污染;土壤的砷污染主要来自大量用作杀虫剂、杀菌剂、 杀鼠剂、除草剂和硫化矿产的开采、选矿、冶炼。

 

  l  土壤重金属普查:

 

  超高精度分析,微量金属元素成分尽在掌握。可以对各类居住用地、商业用地、工业用地等一级二级三级用地进行大量的土壤重金属分析普查

 

  l  大量土壤重金属污染样筛查

 

  通过自动进样器对大量污染样器行自动分析。可以在很短的时间内圈点重点土壤污染区,进行重点优选治理。快速分别污染区与非污染区。整体提高了筛查生产效率,*的减少化验和运输费用。

 

  l  高性能配件提升效果

 

  选用自主研制的数字多道及*超高分辨率探测器,提高设备的稳定性及元素之间的相互干扰,并提高了元素的检出限。

 

 

  SEE 100属于江苏天瑞仪器股份有限公司自主研发的产品,设备采用了能量色散X射线荧光光谱技术实现土壤中微量金属有害元素的快速检测,设备采用了*的探测器和激发源等硬件配置。SEE 100荧光光谱仪,能够快速、准确地分析土壤中金属元素;K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Pb、As、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、Th、Zr、Cd、Hg等元素的检出限和定量限*HJ 780-2015环境保护标准要求。

 

  技术指标

 

  产品型号:SEE 100

 

  产品名称:土壤重金属分析仪

 

  测量元素范围:从硫(S)到铀(U)

 

  元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)

 

  同时分析元素:一次性可测30种以上元素

 

  测量时间:60秒-300秒

 

  探测器能量分辨率为:zui低可达125eV

 

  管压:5KV-55KV

 

  管流:50μA-1000μA

 

  测量对象状态:粉末、固体、液体

 

  输入电压:AC 110V/220V

 

  环境温度:15℃-30℃

 

  环境湿度:35%-70%

 

  外形尺寸:380mm×360mm×418mm

 

 

  技术指标

 

  测量元素范围:从硫(S)到铀(U)

 

  元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)

 

  同时分析元素:一次性可测30种以上元素

 

  测量时间:60秒-300秒

 

  探测器能量分辨率为:zui低可达125eV

 

  光管管压:5KV-65KV

 

  光管管流:50μA-1000μA

 

  准直器与滤光片系统:三种或以上的自动滤光片切换系统

 

  自动进样器:54位

 

  测量对象状态:粉末、固体、液体

 

  输入电压:AC 110V/220V

 

  环境温度:15℃-30℃

 

  环境湿度:35%-70%

 

  外形尺寸:380mm×390mm×390mm

 

  仪器安全性

 

  1、具备仪器自动保护功能,防止仪器误操作导致辐射泄漏及仪器损坏。

 

  2、设备安全保护锁,特殊情况下通过安全保护锁保证操作人员安全。

 

  3、三维迷宫式设计,防止辐射泄漏。

 

  4、X射线管全包围式设计,提高仪器安全性能。

 

  5、射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》。


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