当前位置:仪器网 > 产品中心 > 测量/计量仪器>天平/衡器>天平、电子天平、分析天平 > 梅特勒托利多MS205DU分析天平
返回产品中心>生产厂家:M|瑞士梅特勒托利多
精度2 :0.1mg
称量范围2 :220g
精度 :0.01mg
称量范围 :82g
规格 - MS205DU 半微量天平
物料号 (s) | 11142068 |
极限值 |
|
zui大称量值 | 220 g |
zui大称量值,精细量程 | 82 g |
可读性 | 0.1 mg |
可读性,精细量程 | 0.01 mg |
重复性(正常加载) 1) | 0.08 mg (200 g) |
重复性(低加载) 1) |
|
线性误差 | 0.2 mg |
灵敏度偏移 2) | 0.8 mg (200 g) |
典型值 |
|
重复性(正常加载) 1) | 0.07 mg (200 g) |
重复性(低加载) 1) | 0.015 mg (20g) |
zui小称量值(根据 USP 要求 | 45 mg |
zui小称量值 (@ U=1%, 2 sd) | 3 mg |
稳定时间 | 4s / 8s |
灵敏度偏移 2) | 0.6 mg (200g) |
外形尺寸 |
|
称盘尺寸 (mm) | ø 80 |
天平尺寸(长x宽x高)(mm) | 358x247x331 |
*您想获取产品的资料:
个人信息: