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吉时利 4200-SCS 半导体表征系统

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条件:使用测试设备
DC I-V,C-V和脉冲在一个测试环境中
直观的点击式Windows®环境
*的远程前置放大器将SMU的分辨率扩展到0.1fA
C-V仪器使C-V测量与DC I-V一样容易
脉冲和脉冲I-V功能,用于高级半导体测试
示波卡提供了集成的示波器和脉冲测量功能
自给自足的PC提供了快速的测试设置,强大的数据分析,图形和打印以及测试结果的板载大容量存储
*的浏览器式的Project Navigator按设备类型组织测试,允许访问多个测试,并提供测试序列和循环控制
针对点击可靠性测试的内置压力/测量,循环和数据分析,其中包括五个符合JEDEC标准的样品测试
对各种LCR表,吉时利开关矩阵配置以及吉时利3400和Keysight 81110脉冲发生器的集成支持
包括的分析探测器的软件驱动程序


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