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日本岛津KRATOS X射线光电子能谱AXIS-165型

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对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品,从宏观分析、微观分析、深度分析,或从元素分析到状态分析,
都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
→XPS灵敏度 11800Kcps(1.30ev,MgKa)400Kcps(0.55ev,单色器)
→AES灵敏度 500Kcps,S/N500∶1


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