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白光干涉测厚仪

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白光干涉测厚仪

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技术参数

1.波长:200-1100nm
2.光谱分辨率:3-10nm
3.波长精度:<0.3nm
4.温度漂移:<0.005nm/K


主要特点

1.测量透明或者半透明的薄膜或者涂层
2.无损/非接触
3.精确,显示精度可以达到纳米
4.在线测量或者离线测量


仪器介绍

白光干涉测厚仪是解决普通测厚仪不能解决的一些厚度测量问题.
例如:它可以同时测量白色胶带上胶的厚度和塑料基体的厚度。
更多测厚仪,请接洽我公司。


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