产品
免费注册快速求购
当前位置:仪器网 > 产品中心 > 物性测试仪器及设备>测厚仪>白光干涉测厚仪> 白光干涉测厚仪
白光干涉测厚仪
电磁/电涡流测厚仪
X射线荧光测厚仪
测厚仪 手提式X射
技术参数
1.波长:200-1100nm 2.光谱分辨率:3-10nm 3.波长精度:<0.3nm 4.温度漂移:<0.005nm/K
主要特点
1.测量透明或者半透明的薄膜或者涂层 2.无损/非接触 3.精确,显示精度可以达到纳米 4.在线测量或者离线测量
白光干涉测厚仪是解决普通测厚仪不能解决的一些厚度测量问题. 例如:它可以同时测量白色胶带上胶的厚度和塑料基体的厚度。 更多测厚仪,请接洽我公司。
白光干涉薄膜厚度测量
会员登录新用户注册 >
请输入账号
请输入密码
请输验证码
*您想获取产品的资料:
个人信息: