PA-200 超宽范围双折射测试仪

1.快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的
2.相位差、双折射和内部应力应变分布
3.超宽范围双折射测试仪

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术世界，并由此开发出的测量仪器。

主要产品分四部分：

• n 光子晶体光学元件；

• 双折射和相位差评价系统；

• 膜厚测试仪；

• 偏振成像相机。

『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列

• 快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的

• 相位差、双折射和内部应力应变分布

PA/WPA系统特点：

• 操作简单/快速测定：*的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布

• 2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。

• 大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。

主要应用

·         光学零件（镜片、）

·         智能手机玻璃基板

·         有机材料（透明晶圆）

参数指标