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CST-50 冲击试样缺口投影仪

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CST-50冲击试样缺口投影仪是根据GB/T229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口检测要求而设计开发的,是用于检测冲击试样缺口制作是否合格的重要设备。

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CST-50冲击试样缺口投影仪

产品用途:

CST-50冲击试样缺口投影仪是根据GB/T229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口检测要求而设计开发的,是用于检测冲击试样缺口制作是否合格的重要设备。

利用光学投影的原理将被测的冲击试样U型和V型缺口与投影仪上的标准板图进行对比以确定被检测的冲击试样加工是否合格,该设备操作简便,检查对比直观、效率高,是冲击试样加工过程中*的检测设备。

主要技术指标:

产品型号CST-50
放大倍数50×
投影屏尺寸ф200mm
工作台位移纵向±10mm,横向±10mm,升降±12mm(无刻度)
工作台转动范围0~360о(无刻度)
光源卤钨灯12V/100W
电源200V/50HZ/150W
外形尺寸515×224×603mm
重量约18kg


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