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简介:FT160XRF镀层分析仪准确、可靠地测量最小部件上的镀层,有助于您在PCB、半导体晶片和微连接器上维持一致且准确的镀层。
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简介:HCC-25电涡流式测厚仪适用于非导磁金属基体上非导电覆盖层厚度的测量。
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简介:日本KETTLH-373电涡流膜厚计为LH-370型的升级版,仪器采用涡电流测试原理无损测试非磁性金属上的厚度,其资料传输速度更快。
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简介:日本KETTLZ-373涡磁式膜厚计配电磁涡流双探头,该仪器测量准确,用途广泛,可测量各种异形基体,如弧形、弯型、柱形、管型等。
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简介:日本KETTLE-373磁感应膜厚计采用电磁感应测试原理无损测试磁性基材(铁或钢)上的非磁性涂镀层的厚度,可将测试数据导入电脑或直接通过外接打印机打印。
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简介:日本KETTLZ-200J两用膜厚计采用电磁和涡流两种测量模式,精度达2%,测量1500μm内的磁性金属底材涂层或800μm内的非磁性金属上涂层。
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简介:日本KETTLZ-990涡磁两用式膜厚计是采用电磁、涡流一体的小型膜厚计,无需人工转换,探头自动识别磁性和非磁性金属底材,准确无误地读出电磁和涡流模式的覆盖层厚度。
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简介:日本KETTLE-200J膜厚计是日本KETT全新研制的内置打印机型涂层厚度测试仪,采用电磁感应测试原理无损测试磁性基材(铁或钢)上的非磁性涂镀层的厚度。
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简介:日本KETTLH-200J型电涡流膜厚计采用电涡流原理,0-800µm量程,3%精度,带打印功能。
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简介:日本KETTLW-990膜厚计测试台人工测量误差减小,对测量管状物很有效。
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简介:德国ListMEGA-CHECKMaster涂镀层测厚仪应用于非铁金属上的所有绝缘涂层厚度的测量,又用于钢铁上的所有非磁性涂层镀层厚度的测量。
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