美国热电ED XRF 赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪（ED XRF）

赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪（ED XRF） 窗超高通量RH靶，76um铍窗，空气冷却先进的大面积高厚度硅锂Si（Li）检测器，全数字化谱分析器 32bit 4096通道，高稳定性：RSD<0.3% 8小时，检测元素：F~U

赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪（ED XRF）仪器介绍　　　　　　

＊端窗超高通量RH靶，76um铍窗，空气冷却
＊先进的大面积高厚度硅锂Si(Li)检测器
＊赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪（ED XRF）拥有全数字化谱分析器 32bit 4096通道
＊高稳定性：RSD<0.3% 8小时 
＊检测元素：F~U

技术参数

样品室：样品类型 固体、粉末、液体、滤渣、镀层和其它 
尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H) 
增高室(选购件): 21.5cm或37.1cm 
单位盘 样品可大至样品室大小 
10位盘(选购件) 带自转机构，样品可大至47mm 
20位盘(选购件) 样品可大至31mm 
自动和手动盘 为特种样品的样品盘，选购件 
环境 空气、真空(选购件)和充氦(选购件) 

激发（核心元件）：
X-光管：超高通量，端窗，RH靶，76um铍窗，空气冷却，其它靶可选 
X-光发生器 4-50KV，1KV间隔。O.02-2.OmA,0.02mA 间隔 
滤光片 7种滤光片加1空位，自动选择 
准直器(选购件) 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五种 

X射线检测配置器（核心元件） 
类型：Si(Li)硅锂
晶体面积： 
Si(Li)面积15mm²，分辨率<155 eV 
Si(Li)LN Si(Li)面积30mm²，分辨率<149 eV 
晶体厚度： 3.5mm
检测元素：F~U

制冷方式：电致冷/液氮致冷 
稳定性：RSD<0.3% 8小时
灵敏度：Fe, Pb <3pmm（油）
再现性：RSD<0.3%/1x10负6次方计数

谱处理器（核心元件）
处理器类型：全数字话 32bit 3 DSP
谱通道：2048 20eV/通道
修正时间：1~40ms, 用户选择
计数率：>100,000cps (live)
能量范围：400~4096eV
死时间影响：<3.0%
重叠校正：<0.3%
能量校正：软件自动

尺寸和重量 
外形尺寸 宽71.88cm，高41.15cm，深59.18cm 
重量 90.7kg 

使用要求 
电源 100、115或230VAC,50或60hz，功率1000W，真空泵需2000W 
遥控诊断和遥控监测需要通过因特网连线 

环境要求 
温度 O～32℃ 
湿度 20～80％RH(无冷凝水)