| zycgr24041501、zycgr20250703 2026年4月~12月仪器设备采购意向汇总表 | ||||||
| 序号 | 采购单位 | 采购项目名称 | 采购品目 | 采购需求概况 | 预算金额(万元) | 预计采购时间 |
| 1 | zycgr24041501 | 高带宽频谱分析仪 | A02201000-试验设备 | 1、设备频率范围10Hz-44GHz,主机频率可升级到50GHz,且带外部扩频接口支持扩频方式扩展频率; 2、设备支持触摸屏控制,且可选中文菜单; 3、分析带宽:最少80MHz; 4、设备支持实时频谱分析功能,实时频谱带宽支持升级,最高160MHz; 5、基准频率全工作温度稳定性≥±2x10-6 6、设备分辨率带宽RBW为1Hz-8MHz,RBW支持4.1:1的选择性;且在1Hz~3MHz支持10%步进调整 7、显示平均噪声电平(指标值、输入端接、 采样或平均检波器、平均类型=Log、0dB输入衰减、20~30°C、噪声消除模式关闭):不低于-163dbm@10MHz~2.1GHz(Spec指标值);-162dbm@2.1~3.6GHz; -161 dBm @3.6~20GHz, -162dbm@2.1~3.6GHz; -161dBm @3.6~20GHz; 8、Amp幅度精度(20Hz~3.6GHz,95%置信区间)不大于±0.23dB; 9、设备衰减器量程为0-70dB,步进2dB; 10、具备常规矢量调制解调功能,包括2-64 FSK、BPSK、QPSK、8PSK、16-1024QAM、MSK、ASK、APSK、VSB 等。 | 220 | 2026年4月 |
| 2 | 800M核磁共振波谱仪 | 波谱仪 | 1台,高灵敏度与宽核检测:可检测低至微摩尔级样品,覆盖 1H、13C、15N、19F 等多种核,适配从基础研究到工业质检的多样化需求。 | 2800 | 2026年6月 | |
| 3 | 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱 | 质谱仪 | 1台,用于集成电路中未知物的定性和定量分析、树脂反应机理研究、树脂合成过程中表征、集成电路表面无机结构的表征、湿电子化学品有机杂质分析、成分分析和差异组分等。 | 600 | 2026年6月 | |
| 4 | 高分辨电感耦合等离子质谱仪 | 质谱仪 | 1台,高质量分辨率:可分离与目标元素质量差异小于0.01 amu的干扰离子,实现复杂基体中痕量级别多元素准确定量。本项目所申购的HR-ICP-MS专门用于复杂光刻胶基体以及原材料中痕量杂质的精确检测。 | 800 | 2026年12月 | |
| 5 | 高通量深海蚀损原位系统 | A02109900-其他仪器仪表 | 可实现材料深海环境原位、高效蚀损评价 | 652 | 2026年6月 | |
| 6 | 纺丝成型设备 | A02102600-纺织仪器 | 1.纺丝位数不少于8位,适配高速卷绕头(机械速度≥6000m/min); 2.纺丝箱体及各加热区控温精度±1℃; 3.适应多种聚合物(如PET、PA、PP等)及母粒添加; 4.免费保修期一年,终身维修服务; 5.货期:合同签订后三个月; 6.采购数量:1台. | 100 | 2026年4月 | |
| 7 | 半导体综合电学测试仪 | A02110204-半导体器件参数测量仪 | 1、电流:30fA 精度,0.1fA 灵敏度; 2、噪声测试带宽:高精度最高 100kHz,超低频最高 40Hz; 3、噪声测试速度:<10s/bias(大于 0.5Hz 频率分辨率); 4、内置脉冲测试:200V 电压,3A 脉冲电流,最小 50us 脉宽; 5、高速时域信号采集:最小采样时间 < 1us,10 万点数据; 6、噪声测试频率分辨率:高精度 0.1Hz,超低频 0.001Hz。 | 140 | 2026年4月 | |
| 8 | 光学平台 | A02100399-其他光学仪器 | 1. 6维减震补偿自由度,重复定位精度优于0.05mm。 2. 具备主动/被动减震功能,其中主动减震频域为0.5 至 100 Hz,单被动减震固有频率1.2至1.8Hz。 3. 主动减震控制方式:反馈+前馈双重控制。 4. 2 Hz以上减震幅度优于90%, 5. 静息时间小于300 ms。 6. 最大承重能力至少比负载重量高20%。 7. 减震系统满足仪器所需震动允许值,必须保证承载仪器长期稳定的运行,不受突发振动干扰。 8. 采购数量:8台 | 240 | 2026年4月 | |
| 9 | 三维轮廓仪 | A02100303-物理光学仪器 | 1.采用非接触白光干涉扫描技术;包含多种测量模式测量功能; 2.相机分辨率:1600×1200像素;且相机分辨率可根据客户使用需求在软件中自行设置为1000×1000像素,1000×600像素,1000×200像素等;扫描速度:≥65微米/秒在相机分辨率1000×1000像素下; 3.全量程扫描范围:≥20mm,单次扫描完成,非拼接;具备压电陶瓷高精度垂直扫描功能,压电陶瓷的垂直扫描范围:≥150μm;台阶高度测试重复性:≤0.1%;台阶高度测试精度:≤0.3%; 4.表面形貌重复性:测试一个超光滑表面。 | 232 | 2026年4月 | |
| 10 | 椭偏仪 | A02100304-光学测试仪器 | 1. 光谱范围深紫外、可见光到近红外,190 – 1700 nm。 2. 用于紫外/可见光段的高灵敏度硅 CCD 阵列探测器,2048像素,光谱分辨率 5 nm(FWHM),像素分辨率 0.45 nm。 3. 用于近红外段的线性铟镓砷阵列探测器,256 像素,光谱分辨率 12 nm(FWHM),像素分辨率 4 nm。 4. 测量时间:典型值 17 秒,整个ψ, Δ谱。 5. 高度、倾斜度可调节的样品载物台,直径 200 mm(可选150 mm 或者 300 mm)。 | 198 | 2026年4月 | |
| 11 | 微区近红外光谱测量系统 | A02100303-物理光学仪器 | 1、系统激光光源至少包含405nm、532nm和785nm激光; 2、光谱仪参数:光谱仪焦长不低于500mm,光栅面积不低于 68mm x 68mm;杂散光抑制比达到1x10-4;最大光谱分辨率至少达到0.6nm、多个探测器系统组合后可测量光谱范围应包含400-1700nm,; 3、显微镜系统:应配置三维移动台,至少配置5x,10x,50x或者5x,20x,50x物镜组。 | 300 | 2026年4月 | |
| 12 | zycgr20250703 | 热管理系统多元耦合特性试验设备 | A02201000试验设备 | 本项目主要用于氢介质不同构架热管理耦合特性原理级试验,主要由供应系统、试验系统、排放系统、测试系统、控制系统、安全防护系统、辅助配套系统等。 | 4148.9 | 2026年4月 |
| 合计 | 10430.9 |
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| 来源:中国政府采购网 | ||||||
信阳师范大学传媒学院教学科研仪器设备采购项目第二批项目公开招标公告
潜在投标人应在河南省公共资源交易中心。获取招标文件,并于2026年05月07日09时00分(北京时间)前递交投标文件。
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